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三維測(cè)量輪廓儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進(jìn)行表面微觀測(cè)量分析和粗糙度質(zhì)量評(píng)價(jià)。白光干涉原理。

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2024-09-06
廠商性質(zhì)：代理商
訪問(wèn)量：668

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產(chǎn)品種類(lèi)非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車(chē)

三維測(cè)量輪廓儀

三維測(cè)量輪廓儀

三維表面微觀測(cè)量及粗糙度評(píng)定廣泛應(yīng)用于精密加工、半導(dǎo)體加工、材料分析等領(lǐng)域

 

優(yōu)勢(shì)

 

√ 亞納米級(jí)縱向分辨率，適合光滑表面測(cè)量分析

 

√ 簡(jiǎn)單、精確、快速、可重復(fù)

 

√ 豐富的測(cè)量模式支持不同2D/3D測(cè)量需求

 

功能

 

√ 表面三維粗糙度非接觸測(cè)量

 

√ 表面微觀三維結(jié)構(gòu)測(cè)量

 

√ 膜厚測(cè)量與分析

 

√ 顯微反射光譜測(cè)量(選)

 

適用對(duì)象

 

精密光學(xué)元件，微納加工器件，金屬機(jī)加工零件，晶圓等

 

測(cè)量原理

 

√ 白光干涉顯微測(cè)量原理：采用白光光源，將非相干光干涉和高分辨率顯微成像技術(shù)相結(jié)形成微觀三維輪廓，采用不同測(cè)量倍率物鏡，縱向測(cè)量分辨率可達(dá)到亞納米量級(jí)

√ 顯微光譜測(cè)量：選配光譜模塊可以實(shí)現(xiàn)表面微區(qū)光譜測(cè)量和膜厚測(cè)量功能


實(shí)測(cè)案例


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